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碳化硅的物理化学性能

信息来源于:互联网 发布于:2021-12-10

物理性质:
高硬度(克氏硬度为3000kg/mm ),可以切割红宝石,高耐磨性,仅次于金刚石,热导率超过金属铜,是Si的3倍,是GaAs的8~10倍。SiC的热稳定性较高,在常压下不可能熔化,散热性能好,对于大功率器件非常重要。

化学性质:
耐腐蚀性非常强,室温下几乎可以抵抗任何已知的腐蚀剂SiC表面易氧化生成Si0,薄层,能防止其进一步氧化, 在高于1700°C时,这层氧化膜熔化并迅速发生氧化反应。4H-SiC和6H-SiC带隙约是Si的3倍,是GaAs的2倍;其击穿电场强度高于Si一个数量级,饱和电子漂移速度是Si的2.5倍。4H-SiC 的带隙比6H-SiC更宽。

碳化硅在半导体芯片中的主要形式为衬底。半导体芯片分为集成电路和分立器件,但不论是集成电路还是分立器件,其基本结构都可划分为“衬底-外延-器件” 结构。碳化硅在半导体中存在的主要形式是作为衬底材料。

碳化硅晶片是碳化硅晶体经过切割、研磨、抛光、清洗等工序加工形成的单晶薄片。

碳化硅晶片作为半导体衬底材料,经过外延生长、器件制造等环节,可制成碳化硅基功率器件和微波射频器件,是第三代半导体产业发展的重要基础材料。

根据电阻率不同,碳化硅晶片可分为导电型和半绝缘型。其中,导电型碳化硅晶片主要应用于制造耐高温、耐高压的功率器件,市场规模较大;半绝缘型碳化硅衬底主要应用于微波射频器件等领域,随着 5G 通讯网络的加速建设,市场需求提升较为明显。
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